Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀：

是一種激光+圖像二和一的粒度粒形分析系統。它的激光散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統，成像系統為動態雙路遠心顯微成像系統，可同步進行粒度和粒形分析，實現了一機兩用。

雙鏡頭斜入射光學系統是由大功率泵浦偏振激光器、進口鏡頭組、石英樣品池和全角度光電探測器陣列組成。由于采用了高性能的鏡頭和*的激光斜入射結構，在單光束條件下實現了全角度散射光信號的接收——這是百特原創的技術，這種技術不僅達到了進口儀器的用多光束技術來擴大散射光角度的效果，還避免了多光束技術造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差，使測試結果更，同時實現了對納米、微米甚至毫米級樣品的粒度測試。由于探測器數量多和結構*，該儀器具有*分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。同時，該儀器還具有樣品折射率測量計技術、自動對中技術、防干燒超聲波分散技術、SOP技術、大功率短波長偏振光技術等，進一步了重復性、性和分辨力。

動態雙路遠心顯微成像系統并聯在激光散射系統中，可隨時拍攝流動中的顆粒圖像并同時進行粒形分析，在得到粒度分布的同時，還能同時得到圓形度、長徑比、粗糙度等粒形參數。更重要的是，這個顯微成像系統能捕捉到樣品中的大顆粒，實現了D100的有效測量，彌補了激光粒度儀無法測試D100的缺憾，為鋰電池等領域提供了測試D100的可靠手段。

Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀：

還批量出口到美國、德國、巴西、韓國、俄羅斯等八十多個國家和地區。2019年下半年，Bettersize3000plus參加了德國聯邦材料研究和測試研究所舉辦的實驗室間“激光散射法測定陶瓷粉末粒度”的比對測試活動。在與43個實驗室送檢的品牌儀器的PK中，Bettersize3000plus的所有樣品的測試結果都在允許公差范圍內，以100%的比測成功率穩居*集團，受到歐洲顆粒界的矚目。

主要技術指標與性能

• 激光散射系統

• 顯微圖像系統